实验目的：
本实验目的仅限于用来确定元件、设备或其它产品在低温环境下使用、运输或储存的能力。
实验范围：
电子电气元件、设备或其它产品。
实验方法：
本低温试验方法细分为以下几种
------非散热试验样品低温试验
●试验Ab，温度渐变
------散热试验样品低温试验
●试验Ad，温度渐变
●试验Ac，温度渐变，试验样品在整个试验过程通电
本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品。
实验标准：
《GB/T2423》
以上依据和标准只是参考举例，具体检测标准请咨询我们！
